官网正版 失效分析应用技术 王荣 现场勘查 断口分析 安全评估 司法鉴定 案例 痕迹分析 裂纹分析 诊断 X射线 电子光学 书籍信息
ISBN:9787111620617作者:王荣
版次:1
出版社:机械工业出版社
出版时间:2019-04-01
中图法分类号:TB114.2
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