电子元器件可靠性设计王蕴辉,于宗光,孙再吉主编科学出版社 9787030196385

更新时间： 2026-06-25

作者：王蕴辉,于宗光,孙再吉　主编

ISBN： 9787030196385

出版时间： 2007-09-01

出版社：科学出版社

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其他信息：包装：平装，版次：1

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ISBN:9787030196385
作者:王蕴辉,于宗光,孙再吉　主编
包装:平装
版次:1
出版社:科学出版社
出版时间:2007-09-01

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