RT现货包邮主动红外微电子封装缺陷检测技术陆向宁电子工业出版社9787121307096 微电子技

更新时间： 2026-06-06

作者：陆向宁

ISBN： 9787121307096

出版时间： 2017-03-01

出版社：电子工业出版社

下载次数： 382

其他信息：包装：精装，印次：1，品相：10成新，字数：0，开本：小16开，版次：1，页数：156，主题词：微电子技术--封装工艺--缺陷，读者对象：暂无

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ISBN:9787121307096
作者:陆向宁
包装:精装
印次:1
品相:10成新
字数:0
开本:小16开
版次:1
页数:156
主题词:微电子技术--封装工艺--缺陷
出版社:电子工业出版社
出版时间:2017-03-01
读者对象:暂无

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